嵌入式安全利器 JTAGulator 的制作与调试实战

前言

在线调试（OCD,On-Chip Debugging）接口可以提供对目标设备的芯片级控制，是工程师、研究人员、黑客用来提取程序固件代码或数据、修改存储器内容或改变设备操作的主要途径。如果你熟悉硬件电路或嵌入式系统，那么你肯定知道JTAG（Joint Test Action Group）和UART（Universal Asynchronous Receiver/Transmitter）可以说是使用最多的串行通信接口。

JTAG规范没有标准的接口定义，所以你可以在各种PCB硬件上中见到4-20pin的JTAG Header，而且各个引脚的功能定义也无法确定，这给调试工作造成了很大的麻烦，下图列举了4种接口定义，有ARM公司的定义，有ST公司的定义等等。

那如何知道引脚定义呢？传统的做法是通过逻辑分析仪做信号分析来解决，但是这样既费时费力又容易出错。于是自动化识别JTAG接口的设备便诞生了，例如有JTAGulator、JTAGenum、JTAG Finder、JTAG Pinout Tool等等，目前来说最好用的还是JTAGulator。

JTAGulator是一个开源硬件工具，可用于识别目标设备上测试点、过孔或元件焊盘的OCD连接，进而可以使用Attify Badge接线并读取程序固件。

JTAG规范

JTAG是联合测试工作组（Joint Test Action Group）的简称，是在名为标准测试访问端口和边界扫描结构的IEEE的标准1149.1的常用名称。此标准用于验证设计与测试生产出的印刷电路板功能。

1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990号文档标准化，在1994年，加入了补充文档对边界扫描描述语言（BSDL）进行了说明。从那时开始，这个标准被全球的电子企业广泛采用。边界扫描几乎成为了JTAG的同义词。

JTAG的主要三大功能：

下载器，即下载程序固件到设备FLASH芯片。
DEBUG，类似于医生的听诊器，可以探听芯片内部的错误。
边界扫描，可以访问芯片内部的型号逻辑状态，还有芯片引脚的状态等等。

在JTAG接口中，最常用的信号有五个，分别是TCK / TMS / TDO / TDI / TRST，其中4个是输入信号接口，另外1个是输出信号接口。

JTAG最初是用来对芯片进行测试的，其基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port）并规定TAP状态机的行为，通过专用的测试工具进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable），对Flash等器件进行编程。下面，我们介绍一下这5个接口：

Test Clock Input (TCK)
TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
Test Mode SelectionInput (TMS)
TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。
Test Data Input (TDI)
TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TDI是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。
Test Data Output (TDO)
TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TDO是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。
Test Reset Input (TRST)
这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。所以有四线JTAG与五线JTAG之分。

JTAG接口可以一对一的使用，也可以组成菊花链的一对多拓扑结构，两种拓扑结构如下图所示。多核的芯片，其芯片内部已经接成了菊花链的形式。